AOI雖然具有比人工檢測(cè)更高的效率,，但畢竟是通過(guò)圖像采集和分析處理來(lái)得出結(jié)果，而圖像分析處理的相關(guān)軟件技術(shù)目前還沒(méi)達(dá)到人腦的級(jí)別,，因此，在實(shí)際使用中的一些特殊情況,，AOI的誤判,、漏判在所難免。目前AOI使用中存在的問(wèn)題有：（1）多錫,、少錫,、偏移、歪斜的工藝要求標(biāo)準(zhǔn)界定不同,，容易導(dǎo)致誤判,。（2）電容容值不同而規(guī)格大小和顏色相同，容易引起漏判,。（3）字符處理方式不同,，引起的極性判斷準(zhǔn)確性差異較大。（4）大部分AOI對(duì)虛焊的理解發(fā)生歧義,，造成漏判推諉,。（5）存在屏蔽圈、屏蔽罩遮蔽點(diǎn)的檢測(cè)問(wèn)題,。（6）BGA,、FC等倒裝元件的焊接質(zhì)量難以檢測(cè)。（7）多數(shù)AOI編程復(fù)雜,、繁瑣且調(diào)整時(shí)間長(zhǎng),，不適合科研單位、小型OEM廠(chǎng),、多規(guī)格小批量產(chǎn)品的生產(chǎn)單位,。（8）多數(shù)AOI產(chǎn)品檢測(cè)速度較慢，有少數(shù)采用掃描方法的AOI速度較快,，但誤判,、漏判率更高。AOI在SMT各工序的應(yīng)用在SMT中,，AOI主要應(yīng)用于焊膏印刷檢測(cè),、元件檢驗(yàn)、焊后組件檢測(cè),。河源直銷(xiāo)SPI檢測(cè)設(shè)備價(jià)格行情

2.2解決相移誤差的新技術(shù)PMP技術(shù)中另一個(gè)主要的基礎(chǔ)條件就是對(duì)于相移誤差的控制,。相移法通過(guò)對(duì)投影光柵相位場(chǎng)進(jìn)行移相來(lái)增加若干常量相位而得到多幅光柵圖來(lái)求解相位場(chǎng)。由于多幅相移圖比單幅相移圖提供了更多的信息,，所以可以得到更高精度的結(jié)果,。傳統(tǒng)的方式都依靠機(jī)械移動(dòng)來(lái)實(shí)現(xiàn)相移。為達(dá)到精確的相移,，都使用了比較高精度的馬達(dá),，如通過(guò)陶瓷壓電馬達(dá)（PZT），線(xiàn)性馬達(dá)加光柵尺等方式,。并通過(guò)大量的算法來(lái)減少相移的誤差,。可編程結(jié)構(gòu)光柵因?yàn)槠湔夜鈻攀峭ㄟ^(guò)軟件編程實(shí)現(xiàn)的,，所以其在相移時(shí)也是通過(guò)軟件來(lái)實(shí)現(xiàn),，通過(guò)此種技術(shù)可以使相移誤差趨向于“0”，提高了量測(cè)精度,。并且此技術(shù)不需要機(jī)械部件,，減少了設(shè)備的故障幾率，降低機(jī)械成本與維修成本,。廣東全自動(dòng)SPI檢測(cè)設(shè)備技術(shù)參數(shù)檢測(cè)誤判的定義及存在原困誤判,，歡迎了解詳細(xì)情況。

PCBA工藝常見(jiàn)檢測(cè)設(shè)備ATE檢測(cè)：AutomaticTestEquipment集成電路(IC)自動(dòng)測(cè)試機(jī),，用于檢測(cè)集成電路功能之完整性,，為集成電路生產(chǎn)制造之終流程,，以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。在所有的電子元器件(Device)的制造工藝?yán)锩?，存在著去偽存真的需要,，這種需要實(shí)際上是一個(gè)試驗(yàn)的過(guò)程。為了實(shí)現(xiàn)這種過(guò)程,，就需要各種試驗(yàn)設(shè)備,，這類(lèi)設(shè)備就是所謂的ATE(AutomaticTestEquipment)。這里所說(shuō)的電子元器件DUT(DeviceUnderTest),，當(dāng)然包括IC類(lèi)別,，此外，還包括分立的元件,，器件,。ATE存在于前道工序(FrontEnd)和后道工序(BackEnd)的各個(gè)環(huán)節(jié)，具體的取決于工藝(Process)設(shè)計(jì)的要求,。在元器件的工藝流程中,，根據(jù)工藝的需要，存在著各種需要測(cè)試的環(huán)節(jié),。目的是為了篩選殘次品,，防止進(jìn)入下一道的工序，減少下一道工序中的冗余的制造費(fèi)用,。這些環(huán)節(jié)需要通過(guò)各種物理參數(shù)來(lái)把握,，這些參數(shù)可以是現(xiàn)實(shí)物理世界中的光，電,，波,，力學(xué)等各種參量，但是,，目前大多數(shù)常見(jiàn)的是電子信號(hào)的居多,。ATE設(shè)計(jì)工程師們要考慮的較多的，還是電子部分的參數(shù)比如,，時(shí)間,，相位，電壓電流,，等等基本的物理參數(shù),。就是電子學(xué)所說(shuō)的，信號(hào)處理,。

結(jié)構(gòu)光柵型SPIPMP又稱(chēng)PSP(PhaseShiftProfilometry)技術(shù)是一種基于正弦條紋投影和位相測(cè)量的光學(xué)三維面形測(cè)量技術(shù),。通過(guò)獲取全場(chǎng)條紋的空間信息與一個(gè)條紋周期內(nèi)相移條紋的時(shí)序信息，來(lái)完成物體三維信息的重建。由于其具有全場(chǎng)性,、速度快,、高精度、自動(dòng)化程度高等特點(diǎn),，這種技術(shù)已在工業(yè)檢測(cè),、機(jī)器視覺(jué)、逆向工程等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用,。目前大部分的在線(xiàn)SPI設(shè)備都已經(jīng)升級(jí)到此種技術(shù)。但是它采用的離散相移技術(shù)要求有精確的正弦結(jié)構(gòu)光柵與精確的相移,，在實(shí)際系統(tǒng)中不可避免地存在著光柵圖像的非正弦化,，相移誤差與隨機(jī)誤差，它將導(dǎo)致計(jì)算位相和重建面形的誤差,。雖然已經(jīng)出現(xiàn)了不少算法能降低線(xiàn)性相移誤差,，但要解決相移過(guò)程中的隨機(jī)相移誤差問(wèn)題，還存在一定的困難,。AOI檢測(cè)設(shè)備的作用有哪些呢,？

AOI的發(fā)展需求集成電路（IC）當(dāng)然是現(xiàn)今人類(lèi)工業(yè)制造出來(lái)結(jié)構(gòu)較為精細(xì)的人造物之一，而除了以IC為主的半導(dǎo)體制造業(yè),，AOI亦在其他領(lǐng)域有很重要的檢測(cè)需求,。①微型元件或結(jié)構(gòu)的形貌以及關(guān)鍵尺寸量測(cè)，典型應(yīng)用就是集成電路,、芯片的制造,、封裝等，既需要高精度又需要高效率的大量檢測(cè)②精密零件與制程的精密加工與檢測(cè),，典型應(yīng)用就是針對(duì)工具機(jī),、航空航天器等高精度機(jī)械零件進(jìn)行相關(guān)的粗糙度、表面形狀等的量測(cè),，具有高精度,、量測(cè)條件多變等特點(diǎn)③生物醫(yī)學(xué)檢測(cè)應(yīng)用，典型應(yīng)用就是各式光學(xué)顯微鏡,，結(jié)合相關(guān)程序編程,、AI即可輔助判斷相關(guān)的生物、醫(yī)學(xué)信息判斷,。④光學(xué)鏡頭或其他光學(xué)元件的像差檢測(cè)解決相移誤差的新技術(shù)——PMP技術(shù)介紹,。茂名多功能SPI檢測(cè)設(shè)備維保

素材查看 SMT錫膏的印刷是SMT制程中首道工序也是SMT生產(chǎn)工藝的重要環(huán)節(jié)，錫膏印刷質(zhì)量直接影響焊接質(zhì)量,。河源直銷(xiāo)SPI檢測(cè)設(shè)備價(jià)格行情

在線(xiàn)SPI設(shè)備在實(shí)際應(yīng)用中出現(xiàn)的一些問(wèn)題目前大部分的SMT工廠(chǎng)都已經(jīng)開(kāi)始導(dǎo)入在線(xiàn)SPI設(shè)備,，但是在實(shí)際使用過(guò)程中，效果也因各廠(chǎng)對(duì)其重視程度而大不一樣。究其原因主要有幾下幾點(diǎn)：品質(zhì)重視不夠目前大部分的工廠(chǎng)（特別是代工廠(chǎng)）在產(chǎn)能的管控上都非常的嚴(yán)格,。但是往往對(duì)品質(zhì)方面重視不夠,。當(dāng)錫膏不能達(dá)到SPI設(shè)備的管控范圍時(shí)，SPI一直會(huì)報(bào)警,，沒(méi)有及時(shí)處理的話(huà)會(huì)嚴(yán)重影響產(chǎn)能,。所以只要產(chǎn)線(xiàn)不出什么大問(wèn)題。都會(huì)把SPI的管控參數(shù)范圍設(shè)大,，提高一次通過(guò)率,，但是這樣往往也會(huì)把真實(shí)的不良流到下一制程，提高維修成本,。目前有的工廠(chǎng)已經(jīng)在SPI后端接一個(gè)收板箱,，當(dāng)SPI測(cè)試OK的時(shí)候直接流入下一工序，F(xiàn)ail的時(shí)候會(huì)停留在收板箱里面,。等作業(yè)人員來(lái)確認(rèn)當(dāng)前電路板的不良點(diǎn)位是否OK,。一般SPI可以查詢(xún)十片電路板的不良信息，如不良點(diǎn)位,，不良圖片等,。也有的工廠(chǎng)已經(jīng)開(kāi)始把SPI與AOI相連接，通過(guò)AOI測(cè)試到的不良反饋給SPI來(lái)合理的設(shè)定測(cè)試范圍與參數(shù),，來(lái)提高一次通過(guò)率,，減少不良流入下一工序。河源直銷(xiāo)SPI檢測(cè)設(shè)備價(jià)格行情

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